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中國提出顛覆性的晶體管技術(shù)

本文由半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫(ID:ICVIEWS)編譯自eetime
在半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,一個集成電路不僅可以在正面形成,還可以在背面形成的時代即將到來。
imec于2018年發(fā)布的CFET(互補(bǔ)場效應(yīng)晶體管)一直被視為繼FinFET和GAA之后,前景光明的下一代場效應(yīng)晶體管。然而,在今年的VLSI研討會上,北京大學(xué)發(fā)布的“倒裝堆疊晶體管(FFET)”卻引起了廣泛關(guān)注。
FET的發(fā)明和發(fā)展歷史
2025年是場效應(yīng)晶體管誕生100周年。

圖 1:場效應(yīng)晶體管 (FET) 發(fā)明 100 周年。來源:VLSI Symposium 2025,特別研討會,Kazuhiko Endo 教授(東北大學(xué))
場效應(yīng)晶體管(FET)是一種利用半導(dǎo)體內(nèi)部產(chǎn)生的電場來控制電流的晶體管。其基本原理由美國物理學(xué)家朱利葉斯·埃德加·利利菲爾德于1925年發(fā)明并獲得專利。然而,由于當(dāng)時的技術(shù)水平,F(xiàn)ET難以實(shí)現(xiàn),因此這個想法在很長一段時間內(nèi)都未能投入實(shí)際應(yīng)用。
大約35年后,1960年,貝爾實(shí)驗室的馬丁·阿塔拉(Martin Atalla)和達(dá)翁·康(Dawon Kahng)發(fā)明了金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET),并在世界上首次成功使其運(yùn)行。這種MOSFET成為后續(xù)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ),并成為支撐集成電路巨變的根本技術(shù)。
MOSFET技術(shù)不斷發(fā)展,1971年,英特爾發(fā)布了用于計算器的“4004”處理器,該處理器采用了PMOS技術(shù)。1972年,英特爾又發(fā)布了“8008”處理器,該處理器采用了NMOS技術(shù),能夠進(jìn)行更復(fù)雜的計算。
但是,“4004”采用以空穴為載流子的PMOS結(jié)構(gòu),因此工作速度較慢;“8008”采用以電子為載流子的NMOS結(jié)構(gòu),雖然可以實(shí)現(xiàn)高速工作,但存在功耗高的問題。
為了應(yīng)對這一問題,美國RCA公司的弗蘭克·萬拉斯(Frank Wanlass)于1963年發(fā)明的CMOS(互補(bǔ)MOS)技術(shù)引起了人們的關(guān)注,該技術(shù)比PMOS和NMOS更早出現(xiàn)。CMOS是一種將PMOS和NMOS成對組合在一起的技術(shù),可同時實(shí)現(xiàn)低功耗、高速運(yùn)行和高集成度。CMOS技術(shù)最初發(fā)明時,由于制造復(fù)雜性,并未得到廣泛應(yīng)用,但其真正價值很快得到了重新評估。
從“重塑CMOS”到FinFET和GAA時代
20世紀(jì)80年代,隨著VLSI(超大規(guī)模集成電路)時代的到來,CMOS占據(jù)了主導(dǎo)地位。CMOS標(biāo)志著半導(dǎo)體技術(shù)飛速發(fā)展的轉(zhuǎn)折點(diǎn),這是因為CMOS電路的微型化使得同時實(shí)現(xiàn)高速化、低功耗化和高集成度成為可能。
這一演變的理論基礎(chǔ)是IBM的羅伯特·H·丹納德(Robert H. Dennard)于1974年提出的“丹納德縮放定律”。丹納德證明,通過以一定的速率降低晶體管的尺寸和電壓,可以提高運(yùn)行速度等性能,同時降低功耗。
此后,半導(dǎo)體行業(yè)一直遵循這一“縮放定律”不斷推進(jìn)微型化。然而,自2000年代中期以來,這一定律已達(dá)到其物理和電氣極限。即使進(jìn)一步微型化,運(yùn)行速度也不再按比例提高。
為了克服這一挑戰(zhàn),業(yè)界不斷探索新技術(shù)。2011年,英特爾成功量產(chǎn)采用FinFET(一種三維晶體管)的處理器。此外,2022年,三星電子成為全球首家在3納米工藝中量產(chǎn)采用環(huán)繞柵極(GAA)結(jié)構(gòu)的邏輯半導(dǎo)體的公司。2025年,臺積電將緊隨其后推出2納米工藝,英特爾也將緊隨其后推出其“18A”工藝。
因此,2025年將是新型晶體管結(jié)構(gòu)“GAA”應(yīng)用開花的一年。下面,筆者將詳細(xì)探討GAA發(fā)展至今的歷史歷程。
三星的GAA技術(shù)
三星的YY Masuoka在VLSI會議上以《GAA “G”enuine “A”rchitecture for “A”I generation》為題發(fā)表演講。
根據(jù)Masuoka的研究,關(guān)于GAA的首次演講是在2002年的VLSI研討會上進(jìn)行的(圖2)。此后,與GAA相關(guān)的演講數(shù)量一直在波動,但自2020年以來一直呈上升趨勢,2022年,三星開始量產(chǎn)配備GAA的邏輯半導(dǎo)體。此外,預(yù)計臺積電和英特爾將在2025年效仿。

圖 2:自 2002 年 GAA 論文發(fā)表以來 20 年的量產(chǎn)情況。來源:VLSI Symposium 2025,特別研討會,YY Masuoka(三星)
如圖 3 所示,GAA 的優(yōu)勢已通過 SRAM 驗證。如圖所示,隨著技術(shù)節(jié)點(diǎn)的進(jìn)步,SRAM 的密度每代都需要增加 1.5 到 2 倍,但通過將 FET 從平面型轉(zhuǎn)換為 FinFET,再轉(zhuǎn)換為 GAA,可以降低 SRAM 單元高度,同時增加晶體管 Weff(有效溝道寬度)。因此,通過從 FinFET 轉(zhuǎn)換為 GAA,可以將 SRAM 的密度提高約 20%。
Masuoka 在這張幻燈片上得出的第一個結(jié)論是“GAA 是未來芯片擴(kuò)展的必需品。

圖 3 結(jié)論 1:GAA 是未來實(shí)現(xiàn)芯片擴(kuò)展的必需品。 來源:VLSI Symposium 2025,特別研討會,YY Masuoka(三星)
GAA 是 PPA 增強(qiáng)的必要條件
接下來,Masuoka 展示了通過將晶體管結(jié)構(gòu)從 FinFET 轉(zhuǎn)換為 GAA,可以將 SRAM 性能提高 20% 以上,將局部失配減少 10% 以上,并將待機(jī)漏電流降低 30% 以上(圖 4)。換句話說,通過采用 GAA,可以同時改善 PPA(功耗、性能和面積)。
Masuoka 在這張幻燈片上的第二個結(jié)論是“GAA 是 PPA 增強(qiáng)的必要條件。 ”

圖4 結(jié)論-2,GAA 對于 PPA 增強(qiáng)至關(guān)重要。來源:VLSI Symposium 2025,特別研討會,YY Masuoka(三星)
Masuoka進(jìn)一步表示,三星將在2022年全球率先開始量產(chǎn)采用GAA的邏輯芯片,臺積電和英特爾將在2025年緊隨其后,而Rapidus也計劃在2027年量產(chǎn)GAA。在結(jié)論3中,他總結(jié)道:“現(xiàn)在GAA已經(jīng)實(shí)現(xiàn)?!保▓D5)。
益岡最終的結(jié)論是,這將是GAA未來100年的關(guān)鍵轉(zhuǎn)折點(diǎn),并強(qiáng)有力地發(fā)出“GAA將引領(lǐng)另一個奇跡。 ”(圖6)。

圖5 結(jié)論-3,現(xiàn)在GAA已經(jīng)實(shí)現(xiàn)。來源:VLSI Symposium 2025,特別研討會,YY Masuoka(三星)

圖6 結(jié)論:GAA 將引領(lǐng)另一個奇跡。來源:VLSI Symposium 2025,特別研討會,YY Masuoka(三星)
那么,GAA的未來又將如何發(fā)展呢?
其中一項領(lǐng)先的候選技術(shù)——北京大學(xué)吳恒教授公布的“倒裝堆疊晶體管”(Flip FET)——引起了廣泛關(guān)注。
中國論文數(shù)量快速增長
圖 7顯示了 VLSI 研討會上技術(shù)(設(shè)備/工藝)和電路領(lǐng)域按地區(qū)提交和接受的論文數(shù)量。
首先,從圖7A中各地區(qū)投稿論文數(shù)量的趨勢來看,可以明顯看出,中國的投稿數(shù)量自2021年左右以來持續(xù)快速增長,到2025年更是達(dá)到了驚人的283篇。同時,從圖7B中錄用論文數(shù)量來看,中國共提交了50篇論文,位居第三,僅次于第一名的美國(56篇)和第二名的韓國(55篇)。然而,考慮到中國近年來的顯著增長,2026年后中國躍居第一的可能性很大。

接下來,圖8顯示了技術(shù)與電路領(lǐng)域論文總數(shù)排名前11的機(jī)構(gòu)。中國在這方面的表現(xiàn)同樣引人注目,北京大學(xué)排名第4(12篇論文),清華大學(xué)排名第6(8篇論文),澳門大學(xué)和復(fù)旦大學(xué)均位列第11(各5篇論文),取得了長足的進(jìn)步。

圖8:技術(shù)與電路領(lǐng)域論文被接受數(shù)量最多的Top 11機(jī)構(gòu)。來源:作者根據(jù)2025 VLSI Symposium新聞發(fā)布會資料制作
簡而言之,中國高校在國際半導(dǎo)體會議VLSI研討會上的影響力正在迅速提升。此外,在中國高校的演講者中,有很多二三十歲的年輕研究人員。換句話說,可以說,中國的年輕力量主導(dǎo)了今年的VLSI研討會。
3D堆疊晶體管的歷史和北京大學(xué)倒裝堆疊晶體管的出現(xiàn)
北京大學(xué)吳恒教授表示,2025年將是自2004年首次演示3D堆疊CMOS以來的大約20年(圖9)。在此期間,2005年成功演示了3D堆疊FinFET,2009年歐洲CEA-Leti演示了第一塊3D堆疊12英寸晶圓。

圖 9 3D 堆疊 FET 的歷史。來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片“在 300 毫米晶圓上首次實(shí)驗演示倒裝 FET(FFET)中的雙面 N/P FET,用于亞 1nm 節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
隨后,在2018年的VLSI研討會上,imec發(fā)布了CFET(互補(bǔ)場效應(yīng)晶體管),這是一種垂直配置的PMOS和NMOS。在臺積電等尖端邏輯半導(dǎo)體制造商的路線圖上,CFET排在GAA之后。換句話說,在FinFET和GAA之后,F(xiàn)ET將進(jìn)入CFET時代,這似乎已成為半導(dǎo)體行業(yè)的共識。
然而,就在這其中,北京大學(xué)吳恒教授團(tuán)隊在2024年VLSI研討會上提出了一種名為倒裝堆疊晶體管(FFET)的新型3D堆疊晶體管概念,并于2025年宣布成功演示了其運(yùn)行。
在下一節(jié)中,筆者將解釋Flip FET概念背后的技術(shù)背景。
2nm及后續(xù)采用的GAA和背面電源
在2nm及以后的工藝中,F(xiàn)ET將從GAA過渡到CFET,并將采用背面電源輸送網(wǎng)絡(luò)(BSPDN)作為布線技術(shù)(圖10)。

圖 10 晶體管從 GAA 變?yōu)?CFET,布線至 BSPDN 。來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片來自“在 300 毫米晶圓上對倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET) 中的雙面 N/P FET 進(jìn)行首次實(shí)驗演示,用于亞 1nm 節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)。”
BSPDN是一種在晶圓表面形成晶體管和信號布線,然后在晶體管背面構(gòu)建電源線的技術(shù)。英特爾將這項技術(shù)稱為“Power Via”,預(yù)計從“18A”工藝開始采用。
需要 BSPDN(或 Power Via)的主要原因有兩個:
第一,傳統(tǒng)的供電方式是從晶體管和信號線的上方供電,在較長的供電路徑上容易產(chǎn)生電壓下降。而通過從背面直接供電,可以顯著降低電壓下降。
第二,過去,晶體管上方有十幾層的信號線和粗電源線混雜在一起,信號線和電源線很容易相互干擾,給布線設(shè)計帶來了很大的限制。通過將晶圓正面的信號線與背面的電源線分開,可以消除兩者之間的干擾,從而可以提高晶圓正面的布線密度。
Flip FET 背后的理念
如上所述,BSPDN 有望在 GAA 世代中得到全面應(yīng)用。在此背景下,我們將使用圖 11解釋Flip FET 背后的概念。

圖 11:如果我們不僅制作電源線,還在背面制作信號線和場效應(yīng)晶體管 (FET) 會怎樣?來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片來自“在 300 毫米晶圓上首次實(shí)驗演示倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET) 中的雙面 N/P FET,用于亞 1 納米節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
從 2nm 開始采用 BSPDN。
如果要在背面創(chuàng)建電源線,那么創(chuàng)建信號線(背面信號)不就可以了嗎?
還有一個想法是在背面安裝某種裝置。
既然已經(jīng)走到這一步,如果還在背面創(chuàng)建電源線、信號線和 FET 會怎么樣?
這樣一來,就設(shè)計出了在正面制作FET和信號線,在背面制作FET、信號線和電源線的方案。那么,為了實(shí)現(xiàn)這個想法,究竟采用了什么樣的工藝呢?
令人驚嘆的Flip FET工藝
將參考圖描述在正面和背面形成FET的工藝。

圖 12. 在正面 (FS) 和背面 (BS) 分別形成 FET 。來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片來自“在 300 毫米晶圓上對倒裝 FET(FFET)中的雙面 N/P FET 進(jìn)行首次實(shí)驗演示,用于亞 1nm 節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
(1)采用自對準(zhǔn)有源技術(shù)形成場效應(yīng)晶體管(FET)溝道區(qū)。(2)形成元件隔離(淺溝槽隔離,STI)結(jié)構(gòu)。(3)在正面形成NMOS晶體管及其布線層。(4)將另一片晶圓鍵合到已經(jīng)形成的硅晶圓上。(5)將晶圓倒裝,這是該工藝的關(guān)鍵點(diǎn)。(6)倒裝后,對上層晶圓進(jìn)行減薄。(7)進(jìn)一步去除硅,露出有源層。(8)在背面形成PMOS晶體管及其布線層。
這項技術(shù)之所以被稱為“Flip FET”,是因為它包含了鍵合后倒裝晶圓的工藝。實(shí)際上,我們利用Flip FET工藝在晶圓正面形成了FinFET NMOS,在背面形成了FinFET PMOS(圖13)。NMOS和PMOS的性能都很好(圖14)。

圖 13:在正面形成 NMOS,在背面形成 PMOS 。來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片來自“在 300 毫米晶圓上對倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET) 中的雙面 N/P FET 進(jìn)行首次實(shí)驗演示,用于亞 1nm 節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)。”

圖 14 確認(rèn) PMOS 和 NMOS 的操作。來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片“在 300 毫米晶圓上首次實(shí)驗演示倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET) 中的雙面 N/P FET,用于亞 1 納米節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
倒裝堆疊晶體管(Flip FET)的應(yīng)用和未來展望
吳恒教授提出了一種在背面形成PMOS和布線層,然后在正面形成NMOS和布線層的工藝,以解決Flip FET應(yīng)用的熱預(yù)算問題。在該方法中,晶圓鍵合和倒裝操作進(jìn)行了兩次(圖15)。

圖 15 在 BS 上創(chuàng)建 PMOS,然后在 FS 上創(chuàng)建 NMOS 的過程[點(diǎn)擊放大] 資料來源:VLSI 研討會 2025 幻燈片,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),“在 300 毫米晶圓上首次實(shí)驗演示倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET) 中的雙面 N/P 場效應(yīng)晶體管,用于亞 1 納米節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
接下來,應(yīng)用相同的Flip FET工藝,在正面和背面制作CMOS結(jié)構(gòu),并對其工作特性進(jìn)行評估(圖16)。吳恒教授課題組在T22-4技術(shù)專場做了關(guān)于此主題的專題報告。

圖 16 演示使用倒裝 FET 在兩側(cè)形成 CMOS 。來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片來自“在 300 毫米晶圓上首次實(shí)驗演示倒裝 FET(FFET)中的雙面 N/P FET,用于亞 1 納米節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
此外,吳恒教授計劃將Flip FET技術(shù)應(yīng)用于亞1納米節(jié)點(diǎn),其路線圖如圖17所示。同課題組的彭萬躍教授在技術(shù)分會T22-3上對該路線圖進(jìn)行了詳細(xì)的展示。
吳恒教授以圖18結(jié)束了他的演講。阿波羅計劃將火箭降落在月球正面,但未來或許可以登陸月球背面。同樣地,他總結(jié)道,在半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,一個集成電路(IC)不僅可以在正面形成,還可以在背面形成的時代即將到來。

圖 17:CMOS 路線圖上的倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET)。來源:VLSI 研討會 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片來自“在 300 毫米晶圓上首次實(shí)驗演示倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET) 中的雙面 N/P 場效應(yīng)晶體管,用于亞 1 納米節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
圖 18 未來將在晶圓的兩面創(chuàng)建 IC。來源:VLSI Symposium 2025,T10-3,吳恒(北京大學(xué)),幻燈片來自“在 300 毫米晶圓上首次實(shí)驗演示倒裝場效應(yīng)晶體管 (FFET) 中的雙面 N/P FET,用于亞 1 納米節(jié)點(diǎn)的堆疊晶體管技術(shù)?!?/p>
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